发明名称 平面显示器之TCP输出接脚的接触测试装置及其测试方法与平面显示器之侦错系统CONTACT ERROR TESTING APPARATUS AND METHOD FOR TCP OUTPUT PIN OF FLAT PANEL DISPLAY, AND ERROR TESTING SYSTEM FOR FLAT PANEL DISPLAY
摘要 一种平面显示器之TCP输出接脚的接触测试装置及其测试方法与平面显示器之侦错系统,此接触测试装置可在不需开启平面显示器的状况下,间接地决定此TCP输出接脚与连接于平面显示器之电极的焊垫间的接触状况,是属于未接触、短路或是正常,其测量方法系将一参考电阻连接于复数个反流电路中所选定之一反流电路与一输入电力来源之间,并测量横跨此参考电阻之电位差,以决定此TCP输出接脚与焊垫间之接触情形。
申请公布号 TWI262465 申请公布日期 2006.09.21
申请号 TW093136304 申请日期 2004.11.25
申请人 DE&T股份有限公司 发明人 宋旺奎
分类号 G09G3/18;H05K7/00 主分类号 G09G3/18
代理机构 代理人 许世正 台北市信义区忠孝东路5段410号4楼
主权项 1.一种平面显示器之TCP输出接脚的接触测试装置, 在TCP中之复数个反流电路之输出系连接于平面显 示器之焊垫,其包括有: 一参考电阻,系连接于复数个反流电路中所选定之 一反流电路与一输入电力来源之间;及 一接触测试单元,系施加该输入电力来源至该焊垫 ,藉由测量横跨该参考电阻之电压变化,以决定该 反流电路之该输出是否与该焊垫相接触。 2.如申请专利范围第1项所述之平面显示器之TCP输 出接脚的接触测试装置,其中于该焊垫上施加该输 入电力来源时,因着面板电极之一寄生电容,藉由 侦测该面板电极之瞬间充/放电的情形,使该接触 测试单元决定该TCP输出接脚之接触状况。 3.如申请专利范围第2项所述之平面显示器之TCP输 出接脚的接触测试装置,更包含有: 一类比缓冲器,该类比缓冲器系连接于参考电阻之 两端,以缓冲横跨该参考电阻之电压变化;及 一差分放大器,系以差分的方式放大由该类比缓冲 器进行缓冲后所得之电压变化,并将放大后之电压 变化输出至该接触测试单元。 4.如申请专利范围第3项所述之平面显示器之TCP输 出接脚的接触测试装置,其中该接触测试单元包含 有: 一高通滤波器,系用以使由该差分放大器输出的讯 号中之高频部分通过; 一充/放电侦测器,藉由经过该高通滤波器滤波之 讯号,以侦测该平面显示器中之该面板电极的瞬间 充/放电状况;及 一讯号产生器,当该充/放电侦测器侦测到瞬间充/ 放电情形时,会由该讯号产生器产生一正常讯号, 反之,则产生一未接触讯号。 5.一种平面显示器之TCP输出接脚的接触测试装置, 在TCP中之复数个反流电路之输出系连接于平面显 示器之焊垫,其包括有: 一参考电阻,系连接于复数个反流电路中所选定之 一反流电路与一输入电力来源之间;及 一短路测试单元,系于一第一TCP输出接脚上施加一 输入电力来源,并将一第二TCP输出接脚接地,之后, 测量横跨该参考电阻之电位差,以侦测连接于所选 定之该反流电路之该第一TCP输出接脚与连接于另 一该反流电路之第二TCP输出接脚间是否发生短路 的状况。 6.如申请专利范围第5项所述之平面显示器之TCP输 出接脚的接触测试装置,其中该平面显示器之一面 板电极,被该面板电极之一寄生电容瞬间充/放电 之后,当该输入电力来源施加于该第一TCP输出接脚 ,而该接地源施加于该第二TCP输出接脚,该短路测 试单元藉由侦测连接于该第一TCP输出接脚与该第 二TCP输出接脚之一短路电阻Rshort分割横跨该参考 电阻RREF之电压,以决定一电位及侦测该参考电阻 RREF,并由所侦测到之电位而决定该第一TCP输出接 脚与该第二TCP输出接脚是否短路。 7.如申请专利范围第6项所述之平面显示器之TCP输 出接脚的接触测试装置,更包含有: 一类比缓冲器,该类比缓冲器系连接于参考电阻之 两端,以缓冲横跨该参考电阻之电压变化;及 一差分放大器,系以差分的方式放大由该类比缓冲 器进行缓冲后所得之电压变化,并将放大后之电压 变化输出至该短路测试单元。 8.如申请专利范围第7项所述之平面显示器之TCP输 出接脚的接触测试装置,其中该短路测试单元包含 有一类比/数位转换器,以将由该差分放大器输出 之一类比讯号转换为一数位讯号。 9.如申请专利范围第8项所述之平面显示器之TCP输 出接脚的接触测试装置,其中该短路测试单元更包 含有一位阶转换器,系用以转换由该差分放大器输 出的讯号之位阶,并将转换后之位阶输出至该类比 /数位转换器。 10.一种平面显示器之TCP输出接脚的接触测试装置, 在TCP中之复数个反流电路之输出系连接于平面显 示器之焊垫,其包括有: 一参考电阻,系连接于复数个反流电路中所选定之 一反流电路与一输入电力来源之间; 一接触测试单元,系施加该输入电力来源至该焊垫 ,藉由测量横跨该参考电阻之电压变化,以决定该 反流电路之该输出是否与该焊垫相接触;及 一短路测试单元,系于一第一TCP输出接脚上施加一 输入电力来源,并将一第二TCP输出接脚接地,之后, 测量横跨该参考电阻之电位差,以侦测连接于所选 定之该反流电路之该第一TCP输出接脚与连接于另 一该反流电路之第二TCP输出接脚间是否发生短路 的状况。 11.如申请专利范围第10项所述之平面显示器之TCP 输出接脚的接触测试装置,其中于该焊垫上施加该 输入电力来源时,因着面板电极之一寄生电容,藉 由侦测该面板电极之瞬间充/放电的情形,使该接 触测试单元决定该TCP输出接脚之接触状况。 12.如申请专利范围第10项所述之平面显示器之TCP 输出接脚的接触测试装置,其中该平面显示器之一 面板电极,被该面板电极之一寄生电容瞬间充/放 电之后,当该输入电力来源施加于该第一TCP输出接 脚,而该接地源施加于该第二TCP输出接脚,该短路 测试单元藉由侦测连接于该第一TCP输出接脚与该 第二TCP输出接脚之一短路电阻Rshort分割横跨该参 考电阻RREF之电压,以决定一电位及侦测该参考电 阻RREF,并由所侦测到之电位而决定该第一TCP输出 接脚与该第二TCP输出接脚是否短路。 13.如申请专利范围第11项或第12项所述之平面显示 器之TCP输出接脚的接触测试装置,更包含有: 一类比缓冲器,该类比缓冲器系连接于参考电阻之 两端,以缓冲横跨该参考电阻之电压变化;及 一差分放大器,系以差分的方式放大由该类比缓冲 器进行缓冲后所得之电压变化,并将放大后之电压 变化输出至该短路测试单元。 14.如申请专利范围第13项所述之平面显示器之TCP 输出接脚的接触测试装置,其中该接触测试单元包 含有: 一高通滤波器,系用以使由该差分放大器输出的讯 号中之高频部分通过; 一充/放电侦测器,藉由经过该高通滤波器滤波之 讯号,以侦测该平面显示器中之该面板电极的瞬间 充/放电状况;及 一讯号产生器,当该充/放电侦测器侦测到瞬间充/ 放电情形时,会由该讯号产生器产生一正常讯号, 反之,则产生一未接触讯号。 15.如申请专利范围第13项所述之平面显示器TCP输 出接脚的接触测试装置,其中该短路测试单元包含 有一类比/数位转换器,以将由该差分放大器输出 之一类比讯号转换为一数位讯号。 16.如申请专利范围第15项所述之平面显示器之TCP 输出接脚的接触测试装置,其中该短路测试单元更 包含有一位阶转换器,系用以转换由该差分放大器 输出的讯号之位阶,并将转换后之位阶输出至该类 比/数位转换器。 17.一种平面显示器之侦错系统,其包含有一主控制 器、一个以上之测试模组、一切换单元、一连接 器及一电源供应器,该主控制器系用以控制该侦错 系统,该测试模组系用以测试该平面显示器,该切 换单元系于该主控制器的控制下切换至所选定之 该测试模组,该连接器系用以连接该系统至该平面 显示器之TCP接脚,该电源供应器系用以提供整个系 统所需之电力,其中各该测试模组系为一TCP输出接 脚之接触测试装置,其包含有: 一参考电阻,系连接于复数个反流电路中所选定之 一反流电路与一输入电力来源之间; 一接触测试单元,系施加该输入电力来源至该焊垫 ,藉由测量横跨该参考电阻之电压变化,以决定该 反流电路之该输出是否与该焊垫相接触;及 一短路测试单元,系于一第一TCP输出接脚上施加一 输入电力来源,并将一第二TCP输出接脚接地,之后, 测量横跨该参考电阻之电位差,以侦测连接于所选 定之该反流电路之该第一TCP输出接脚与连接于另 一该反流电路之第二TCP输出接脚间是否发生短路 的状况。 18.如申请专利范围第17项所述之平面显示器之侦 错系统,其中于该焊垫上施加该输入电力来源时, 因着面板电极之一寄生电容,藉由侦测该面板电极 之瞬间充/放电的情形,使该接触测试单元决定该 TCP输出接脚之接触状况。 19.如申请专利范围第17项所述之平面显示器之侦 错系统,其中系施加该输入电力来源至该第一TCP输 出接脚,并将该第二TCP输出接脚接地,藉由横跨该 第一TCP输出接脚与该第二TCP输出接脚间之一短路 电阻,以分割横跨该参考电阻之电位差,于该平面 显示器之一面板电极因着一寄生电容而瞬间充放 电之后,测量一电位,使该短路测试单元决定该第 一TCP输出接脚与该第二TCP输出接脚间是否发生短 路的情形。 20.如申请专利范围第18项或第19项所述之平面显示 器之侦错系统,更包含有: 一类比缓冲器,该类比缓冲器系连接于参考电阻之 两端,以缓冲横跨该参考电阻之电压变化;及 一差分放大器,系以差分的方式放大由该类比缓冲 器进行缓冲后所得之电压变化,并将放大后之电压 变化输出至该短路测试单元。 21.如申请专利范围第20项所述之平面显示器之侦 错系统,其中该接触测试单元包含有: 一高通滤波器,系用以使由该差分放大器输出的讯 号中之高频部分通过; 一充/放电侦测器,藉由经过该高通滤波器滤波之 讯号,以侦测该平面显示器中之该面板电极的瞬间 充/放电状况;及 一讯号产生器,当该充/放电侦测器侦测到瞬间充/ 放电情形时,会由该讯号产生器产生一正常讯号, 反之,则产生一未接触讯号。 22.如申请专利范围第20项所述之平面显示器之侦 错系统,其中该短路测试单元包含有一类比/数位 转换器,以将由该差分放大器输出之一类比讯号转 换为一数位讯号。 23.如申请专利范围第22项所述之平面显示器之侦 错系统,其中该短路测试单元更包含有一位阶转换 器,系用以转换由该差分放大器输出的讯号之位阶 ,并将转换后之位阶输出至该类比/数位转换器。 24.如申请专利范围第17项所述之平面显示器之侦 错系统,更包含有一通讯模组,以将由各该测试模 组输出之讯号输出至一外界电脑。 25.如申请专利范围第24项所述之平面显示器之侦 锆系统,其中该电脑系由各该测试模组输出之讯号 ,于一萤幕中显示出该平面显示器之错误资讯。 26.一种测试平面显示器之TCP输出接脚接触错误之 方法,在TCP中之复数个反流电路之输出系连接于平 面显示器之焊垫,该方法系包含下列步骤: 施加一输入电力来源至一焊垫,该焊垫系连接于复 数个反流电路中所选定之一该反流电路; 测量横跨一参考电阻之电位差,该参考电阻系连接 于所选定之该反流电路与该输入电力来源之间;及 分析于该测量步骤中所得之电位差,以决定所选定 之该反流电路之该输出是否与该焊垫相接触。 27.如申请专利范围第26项所述之测试平面显示器 之TCP输出接脚接触错误之方法,其中于决定该反流 电路之该输出是否与该焊垫相接触之步骤中,更包 含下列步骤: 施加该输入电力来源至该焊垫,藉由测量该平面显 示器中之一面板电极因着该面板电极之一寄生电 容之瞬间充/放电情形,而决定该TCP输出接脚是否 发生接触错误的情形。 28.一种测试平面显示器之TCP输出接脚接触错误之 方法,在TCP中之复数个反流电路之输出系连接于平 面显示器之焊垫,该方法系包含下列步骤: 施加一输入电力来源至一第一TCP输出接脚,该第一 TCP输出接脚系连接于复数个反流电路中所选定之 一该反流电路,并将一第二TCP输出接脚接地,该第 二TCP输出接脚系连接于另一该反流电路; 测量横跨一参考电阻之电位差,该参考电阻系连接 于所选定之该反流电路与该输入电力来源之间;及 分析于该测量步骤中所得之电位差,以决定连接于 二该反流电路之该第一TCP输出接脚与该第二TCP输 出接脚间是否短路。 29.如申请专利范围第28项所述之测试平面显示器 之TCP输出接脚接触错误之方法,其中该决定该第一 TCP输出接脚与该第二TCP输出接脚间是否短路之步 骤,更包含下列步骤: 当该平面显示器之一面板电极,被该面板电极之一 寄生电容瞬间充/放电之后,当该输入电力来源施 加于该第一TCP输出接脚,而该接地源施加于该第二 TCP输出接脚; 侦测连接于该第一TCP输出接脚与该第二TCP输出接 脚之一短路电阻Rshort分割横跨该参考电阻RREF之电 压,以决定一电位及侦测该参考电阻RREF;及 由所侦测到之电位而决定该第一TCP输出接脚与该 第二TCP输出接脚是否短路。 图式简单说明: 第1图,系为习知一TCP连接于平面显示器之示意图; 第2图,系为本发明之平面显示器之TCP输出接脚的 接触测试装置的方块图; 第3图,系为本发明之平面显示器之侦错系统的方 块图; 第4a图,系为本发明之平面显示器之TCP输出接脚的 接触测试方法之实施例的方法流程图; 第4b图,系为本发明之平面显示器之TCP输出接脚的 接触测试方法之另一实施例的方法流程图; 第5a图,系为当TCP输出接脚未接触(open)时,横跨此参 考电阻RREF之电位改变状况示意图; 第5b图,系为当TCP输出接脚属于正常接触状况时,横 跨此参考电阻RREF之电位改变状况示意图; 第5c图,系为当TCP输出接脚间发生短路状况时,横跨 此参考电阻RREF之电位改变状况示意图;及 第5d图,系为第5c图中所示之波形的反转图。
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