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Es ist ein Verfahren zum Entwurf einer integrierten Schaltung angegeben, bei der obere und untere Grenzen von abhängigen Bauteilparametern und von Umgebungsparametern (3, 4) ermittelt werden. Die Grenzen der abhängigen Bauteilparameter werden in Abhängigkeit von Grenzen von Bauteilparametern in einer Worst-Case-Betrachtung ermittelt. Die abhängigen Bauteilparameter und die Umgebungsparameter werden nachfolgend zunächst bezüglich ihrer Grenzen normiert (5), bevor Experimentierdesigns konstruiert und Simulationen durchgeführt werden (6, 7). Eine Analyse der Ergebnisse (8) liefert nicht nur qualitative, sondern auch quantitative Aussagen über Abhängigkeiten von Ergebnisvariablen, beispielsweise der Bandbreite einer Schaltung von Haupteffekten, beispielsweise dem Drain-Strom eines Transistors oder dem Kapazitätswert eines Kondensatorbauteils.
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