发明名称 | 基板处理方法及半导体装置之制造方法 | ||
摘要 | 本发明为一种基板处理方法,系要对具有与该被处理基板上的其他部位接续之被接续部、已经被形成在该被接续部上之被蚀刻层、和已经被图案形成在该被蚀刻层上的罩幕层之被处理基板,进行之基板处理方法,其特征为,具备:蚀刻工程,经由前述罩幕层,蚀刻前述被蚀刻层,而形成对应前述罩幕层的图案之凹部,藉由该凹部使前述被接续层露出;和电浆处理工程,使用含有氢、氮或氧之中的至少一种以上的气体之电浆,除去前述罩幕层,同时除去被混入前述被接续部中之不纯物。 | ||
申请公布号 | TW200633133 | 申请公布日期 | 2006.09.16 |
申请号 | TW094141295 | 申请日期 | 2005.11.24 |
申请人 | 东京威力科创股份有限公司 | 发明人 | 前川薰 |
分类号 | H01L21/768 | 主分类号 | H01L21/768 |
代理机构 | 代理人 | 林志刚 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |