发明名称 |
CMP研磨方法、CMP研磨装置、具有STI构造积层基板之制造方法、以及半导体元件之制造方法 |
摘要 |
如图1(a)所示般,对晶圆(于Si基板1上形成热氧化膜2,进而于热氧化膜2上形成SiN层3,以将Si基板1、热氧化膜2上所形成之沟槽加以填充并被覆SiN层3的方式形成SiO2层5)进行CMP研磨,形成如图1(b)所示般之具有STI构造之积层基板。在CMP研磨之初期阶段,使用二氧化铈浆料作为浆料进行研磨,在SiN层3之表面局部露出之阶段,将浆料更换为二氧化矽浆料,持续进行CMP研磨。其结果,可将SiO26之凹陷减小。 |
申请公布号 |
TW200633042 |
申请公布日期 |
2006.09.16 |
申请号 |
TW095104292 |
申请日期 |
2006.02.09 |
申请人 |
尼康股份有限公司 |
发明人 |
星野进 |
分类号 |
H01L21/304;H01L21/762;B24B37/04 |
主分类号 |
H01L21/304 |
代理机构 |
|
代理人 |
桂齐恒;阎启泰 |
主权项 |
|
地址 |
日本 |