发明名称 位置侦测装置、位置侦测方法、测试装置以及摄影模块制造装置
摘要 一种位置侦测装置,其侦测按照所接受的光的强度而输出一输出信号的摄影装置的位置,此位置侦测装置包括:光源、照射透镜、位置侦测部及移动部。其中,光源是产生光。照射透镜是将光源所产生的光,照射于摄影装置上。位置侦测部,是依据于摄影装置按照经由照射透镜所受光的光而输出的输出信号,侦测对于照射透镜的摄影装置的相对位置。移动部,是依据位置侦测部所侦测的相对位置,藉由移动摄影装置及照明透镜的至少一方,使摄影装置的相对位置变化到预定位置。
申请公布号 CN1829897A 申请公布日期 2006.09.06
申请号 CN200480021437.8 申请日期 2004.07.23
申请人 爱德万测试株式会社 发明人 市川雅理;山口隆弘
分类号 G01B11/00(2006.01);H01L27/14(2006.01);H04N5/225(2006.01);G02B7/02(2006.01) 主分类号 G01B11/00(2006.01)
代理机构 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人 寿宁
主权项 1、一种位置侦测装置,其是侦测按照所接受的光的强度而输出一输出信号的摄影装置的位置的位置侦测装置,其特征在于包括:光源,用以产生光;照射透镜,将该光源所产生的光,照射于上述摄影装置上;以及位置侦测部,依据于上述摄影装置按照经由该照明透镜所受光的光而输出的该输出信号,侦测对于该照射透镜的该摄影装置的相对位置。
地址 日本东京
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