发明名称 一种微细光刻图案方法
摘要 一种微细光刻图案方法,采用改进的深紫外(DUV)光刻胶和底层树脂。此方法在未使用光学改进方法的条件下可以减小光刻胶的厚度,实现光刻图案安全的高宽比,从而提高图案的分辨率和关键尺寸的均匀性、曝光宽容度和聚焦深度。由于采用底层树脂,在后续刻蚀工艺中不需要通常薄层光刻胶需要的硬掩模,而得到衬底上高分辨率的转移图案,使DUV光刻胶的应用可延伸至0.11μm及以下的技术。此方法的应用可以简化量产工艺,降低成本,提高产能。
申请公布号 CN1828422A 申请公布日期 2006.09.06
申请号 CN200510024213.9 申请日期 2005.03.04
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 崔彰日
分类号 G03F7/20(2006.01);H01L21/027(2006.01) 主分类号 G03F7/20(2006.01)
代理机构 上海新高专利商标代理有限公司 代理人 楼仙英
主权项 1.一种微细光刻图案方法,包括在整个被刻蚀的衬底层表面涂敷一层底层树脂;在底层树脂层的上表面涂敷一层光刻胶;对光刻胶层进行要求图案的曝光,和曝光后烘烤;光刻胶层和底层树脂层在显影液中显影,在光刻胶和底层树脂层上形成光刻图案;光刻胶和底层树脂层作为刻蚀阻挡层进行选择性刻蚀,将图案转移到衬底上。
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