| 发明名称 | 自动测试系统 | ||
| 摘要 | 一种自动测试系统，其包括：取样转换装置及微处理器。取样转换装置用以撷取待测装置的复数电性参数并且将上述电性参数转换成复数数字信号。微处理器用以接收上述数字信号以分别完成复数不同的短路保护测试、复数不同的过电流保护测试及复数不同的过电压保护测试。微处理器依特定顺序完成上述短路保护测试、上述过电流保护测试以及上述过电压保护测试。 | ||
| 申请公布号 | CN1273839C | 申请公布日期 | 2006.09.06 |
| 申请号 | CN03100751.1 | 申请日期 | 2003.01.21 |
| 申请人 | 台达电子工业股份有限公司 | 发明人 | 刘肯和;王利平;毛长根;张华良 |
| 分类号 | G01R31/02(2006.01);G01R31/28(2006.01) | 主分类号 | G01R31/02(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 黄小临 |
| 主权项 | 1.一种自动测试系统，其包括：一取样转换装置，用以撷取一待测装置的复数电性参数并且将上述电性参数转换成复数数字信号；一微处理器，用以接收上述数字信号以分别完成复数不同的短路保护测试(Short)、复数不同的过电流保护测试(Over Current Protect)及复数不同的过电压保护(Over Voltage Protect)测试，其中该微处理器依一特定顺序完成上述短路保护测试、上述过电流保护测试以及上述过电压保护测试；以及一可程序化输入装置控制电路，其由一输入装置接收复数不同的控制讯号，每个控制讯号经由该微处理器改变该待测装置，以使该取样转换装置撷取到不同的电性参数。 | ||
| 地址 | 台湾省桃园县 | ||