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发明名称
METHOD FOR CHECKING LEAK OF CHAMBER FOR SEMICONDUCTOR EQUIPMENT
摘要
申请公布号
KR20060094235(A)
申请公布日期
2006.08.29
申请号
KR20050015242
申请日期
2005.02.24
申请人
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.
发明人
SHIN, YOUNG IL
分类号
H01L21/02
主分类号
H01L21/02
代理机构
代理人
主权项
地址
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