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发明名称
形成于基材上之金属氧化物层及其制造方法
摘要
本发明系关于包含成长于一基材上的金属氧化物之新颖半导体薄膜及其制造方法。金属氧化物系由氧化钼所构成,该氧化钼非常有用于制造具有高耐受电压的电子装置及光子和电子敌意性环境装置。本发明的一重要方面为在由已用于一般电子或光子装置中的材料所制成的基材上形成该氧化钼薄膜。最普遍的材料为矽。本发明的另一重要方面为一种在基材上形成氧化钼薄膜之新颖方法。
申请公布号
TW200629382
申请公布日期
2006.08.16
申请号
TW094137315
申请日期
2005.10.25
申请人
河东田隆
发明人
河东田隆
分类号
H01L21/205
主分类号
H01L21/205
代理机构
代理人
林志刚
主权项
地址
日本
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