测试可耐久光学元件之方法

摘要

本发明揭示一种包括提供具有一微结构表面的聚合光学膜结构之方法，其在该微结构表面上形成具有一长度之刮痕以形成一受刮擦(scratched)的光学膜；照射该受刮擦的光学膜以形成一受照射的刮痕；藉由一侦测器来沿该受照射的刮痕长度量测复数个刮痕对比率值；以及，依据沿该刮痕长度之复数个刮痕对比率值来决定一最大刮痕对比率。