发明名称 分光系统中被测光谱的纯净方法
摘要 本发明涉及一种分光系统中被测光谱的纯净方法,根据全谱并行测量的要求,利用被测光谱与叠加的非被测光谱分别属于不同的波段这一性质,所有波段非被测级次光谱的滤除由一块定位式的滤光片或器件来实现。滤光器件由具有不同透过或反射光谱特性的两个或以上区域组成,各区域的大小、透过或反射光谱特性由被测光谱和非被测重叠光谱的波长分布和波长范围确定,区域划分的依据是每个区域内被测光谱与非被测光谱在谱段上断开至少5nm,区域的透过或反射光谱特性设计应满足使被测谱经过滤光片透射或反射后仍能达到探测器,并具有足够的强度,同时使非被测谱经过滤光片透射或反射后不能达到探测器。
申请公布号 CN1268902C 申请公布日期 2006.08.09
申请号 CN03115779.3 申请日期 2003.03.13
申请人 上海交通大学 发明人 黄梅珍;袁波;赵海鹰;倪一;林峰;黄维实;窦晓鸣
分类号 G01J3/00(2006.01);G01J3/02(2006.01);G01J3/26(2006.01) 主分类号 G01J3/00(2006.01)
代理机构 上海交达专利事务所 代理人 毛翠莹
主权项 1、一种分光系统中被测光谱的纯净方法,其特征在于包括如下具体步骤:1)选择滤光器置于分光器件和多通道阵列探测器之间;2)分析滤光器所在面上被测光谱与非被测光谱的波长分布及其空间位置分布;3)根据被测光谱与非被测光谱的波长空间分布情况将光谱测量面或滤光面划分成2个或以上区域,使得呈现在每个区域上的被测光谱与非被测光谱的波长无重叠,在光谱波段上断开,被测光谱的短波长大于非被测光谱的长波长,或者被测光谱的长波长小于非被测光谱的短波长,被测光谱与非被测光谱断开的波长间距大于等于5nm;4)选择一块与谱面大小相适的基片,在划分的各个区域分别镀膜或涂料,使得各区域具有不同的光学透过特性,从而使得各区域均具有“通”被测光谱而“截”非被测光谱的特性;或者选择具有不同光学透射特性的薄膜或波片,经过裁制,将其采用交叠或胶合的方法拼成多区域滤光器,使得各区域具有不同的光学透过特性,从而使得各区域均具有“通”被测光谱而“截”非被测光谱的特性。
地址 200030上海市华山路1954号
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