发明名称 |
带有基板异常检测电路的装置 |
摘要 |
可以准确地发现、防止半导体试验装置中的DSA误安装或连接器的连接不良。本发明的半导体试验装置,具有搭载在插座板(11)上的一组DSA(10a、10b)、和包括与该一组DSA(10a、10b)的各插座板(11)的连接器(14)连接的连接器的母板(20),还包括:ID设定用板,设定附与该DSA(10a、10b)的ID号码,输出表示该ID号码的ID信号;一致电路,输入由ID设定用板输出的ID信号,检测该ID信号的一致不一致;和菊花链电路,将来自母板(20)侧的连接器(21)之一的信号输入,经过对应的DSA侧的连接器(14),将信号顺次传送到所有的连接器(21、14),并检测有无输出信号。 |
申请公布号 |
CN1811479A |
申请公布日期 |
2006.08.02 |
申请号 |
CN200610004260.1 |
申请日期 |
2003.02.25 |
申请人 |
株式会社爱德万测试 |
发明人 |
平野耕作 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01);G01R31/26(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
李香兰 |
主权项 |
1、一种带有基板异常检测电路的装置,具有由多个基板组合构成的至少一组基板群、和与该基板群连接的对方基板,其特征在于,具备:ID设定用板,其分别被设置在所述基板群的各个基板上,对该基板群设定所附与的规定ID号码,同时输出表示该ID号码的ID信号;ID信号输入板,其被设置在与所述基板群对应的对方基板上,输入由所述ID设定用板输出的各ID信号;和比较装置,输入由所述ID信号输入板输出的各ID信号,与对应的所述各基板的ID信号进行比较;检测所述基板群中基板的组合异常;其中,所述ID设定用板输出具有规定比特数量的ID信号;以及所述比较装置将对应的基板的ID信号的各个比特进行比较,并且当整个比特匹配时,发送基板的组合一致的输出信号,否则,发送基板的组合异常的异常信号。 |
地址 |
日本东京都 |