成像装置中之振动校正装置及其方法

摘要

本发明揭露一种成像装置中之振动校正装置，其包括一微镜阵列透镜，配置为令一物像聚焦在一影像感测器上，及一振动判定装置，连通地耦合至该微镜阵列透镜，配置为判定该成像装置之振动及产生一振动校正信号。该微镜阵列透镜系可调整，以基于至少部份之振动校正信号来改变其光轴，以校正该微镜阵列透镜之振动。在一观点中，该微镜阵列透镜包括复数个微镜，及该光轴之改变系藉由复数个微镜之转移及／或转动。本发明之优点包括不需要明显可见之机械移动即可调整光轴，高取样速率，结构简单，及使用任何类型振动判定装置之弹性。