| 摘要 |
兹揭示分配测试装置资源的系统与方法。在一方面中，描述一种用于分配m个测试装置资源至一探针卡的n个部位的系统，该探针卡系经组态成可电气性连接至一基板上之各个受测部位位置，在此m、n为整数且m＜n。该系统包含一可组态互连网路，其系包含多个在资源与探针卡部位之间的连接。该等连接能使各受测部位位置连接至数目超过该探针卡与该等受测部位之接触最少数的该等资源中之至少一个。每一该等资源可连接至该等探针卡部位的数目至多等于该接触最少数。在另一方面，描述一种用于分配测试装置资源的系统，其系包含多个探针卡、一可组态互连网路、以及一控制器。该等探针卡系经组态成可接触在多个基板上的受测部位。该互连网路可操作以连接该等资源至该等探针卡上的部位。该控制器可操作以将该互连网路组态成可同时连接该等资源至在不同基板上的受测部位中之选定部位以最大化该等资源的利用率。 |
