发明名称 |
电路图形检测装置和电路图形检测方法 |
摘要 |
在玻璃基板下形成透明导电层。在电光学晶体层的双表面上形成防反射层和反射层。在透明导电层的表面上(下侧表面)通过粘接剂层来粘接电光学晶体层的防反射层。即,在粘接剂层(l3)和电光学晶体层(15)之间设置防反射层(14)。 |
申请公布号 |
CN1265232C |
申请公布日期 |
2006.07.19 |
申请号 |
CN01804018.7 |
申请日期 |
2001.11.30 |
申请人 |
凸版印刷株式会社 |
发明人 |
柳泽恭行 |
分类号 |
G02F1/13(2006.01);G01R31/02(2006.01);G01R31/28(2006.01);G01R15/24(2006.01) |
主分类号 |
G02F1/13(2006.01) |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 |
代理人 |
黄剑锋 |
主权项 |
1.一种电路图形检测装置,其包括:在形成有电路图形的电路基板附近设置的电光学元件,该电光学元件具有电光学晶体层、设置在所述电光学晶体层的光入射侧的透明电极层、以及设置在所述电光学晶体层和所述透明电极层之间的防反射层;电场发生电路,向所述电路图形施加电压,以便将与电路图形对应的电场提供给所述电光学晶体层;以及检测器,该检测器对偏振面随着双折射率的变化而发生变化的所述电光学元件的反射光的强度分布进行检测,所述双折射率随着被提供的电场而改变;所述电场发生电路还包括将所述电光学元件接地、将交流电压施加到所述电路图形上的信号源。 |
地址 |
日本东京都 |