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发明名称 IC-Testgerät
摘要
申请公布号 DE19912417(B4) 申请公布日期 2006.07.13
申请号 DE19991012417 申请日期 1999.03.19
申请人 ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO 发明人 ONISHI, TAKESHI
分类号 G01R31/26;G01R31/28;B65G49/05;G11C29/00;G11C29/56 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
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