| 发明名称 |
Vorrichtung und Verfahren zum Testen von Halbleiterspeichern |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE19928981(B4) |
申请公布日期 |
2006.07.13 |
| 申请号 |
DE19991028981 |
申请日期 |
1999.06.24 |
| 申请人 |
ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO |
发明人 |
HASHIMOTO, JUN |
| 分类号 |
G11C29/00;G01R31/3183;G01R31/3193;G11C29/26 |
主分类号 |
G11C29/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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