发明名称 准直测量装置
摘要 本发明涉及一种激光准直装置,尤其是测量孔轴两种情况的位移准直测量装置。准直测量装置,其特征是:它由发射器(2)、接收器(3)和测量架构成,发射器(2)、接收器(3)分别安装在各自的测量架的L形底架(1)上,且他们的光轴平行于各自的L形底架(1)的底座,且同步旋转,发射器的光源(33)、挡光板(40)的小孔(37)和发射器的镜头(72)依次在同一光轴上,接收器(3)的二维位置光学测量器件(24)与接收器的镜头(58)在同一光轴上,接收器(3)的二维位置光学测量器件(24)由信号线(68)与计算机(36)相连接。本发明即能测量两个孔或两个轴之间的相对偏移又能测量偏移角。
申请公布号 CN1262815C 申请公布日期 2006.07.05
申请号 CN200310111549.X 申请日期 2003.12.10
申请人 武汉理工大学 发明人 吕植勇;陶德馨;肖汉斌
分类号 G01B11/27(2006.01) 主分类号 G01B11/27(2006.01)
代理机构 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 代理人 唐万荣
主权项 1.准直测量装置,其特征是:它由发射器(2)、接收器(3)和测量架构成,测量架包括L形底架(1);发射器(2)包括发射器的光源(33)、挡光板(40)、第一凸透镜(70)、第二凸透镜(71)、发射器的镜头(72),发射器的光源(33)、挡光板(40)的小孔(37)、第一凸透镜(70)、第二凸透镜(71)、发射器的镜头(72)依次布置并位于同一光轴上,且光轴平行于L形底架(1)的底座;接收器(3)包括接收器的镜头(58)、成像透镜(14)、二维位置光学测量器件(24),接收器的镜头(58)、成像透镜(14)、二维位置光学测量器件(24)依次布置并位于同一光轴上,且光轴平行于L形底架(1)的底座,接收器(3)的二维位置光学测量器件(24)由信号线(68)与计算机(36)相连接;发射器(2)、接收器(3)分别与2个第二底座(12)固定连接,2个第二底座(12)分别由紧固螺钉(7)固定在2个L形底架(1)外侧的梯形燕尾槽(4)上,L形底架(1)的底座顶端(42)处开有倒V型燕尾槽(11),在测量时发射器(2)、接收器(3)同步旋转同样的角度;测量轴时,轴(47)与L形底架(1)的底座顶端的倒V型燕尾槽(11)相接触;测量孔时,将梯形截面长条(22)插入梯形燕尾槽(4)的上端或下端槽中,L形底架(1)的底座与孔内壁(28)相接触。
地址 430072湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
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