发明名称 | 光阻剂处理方法 | ||
摘要 | 揭示一种光阻剂处理方法。本发明之方法系在光阻剂形成图样之后或之前,对光阻剂施以氩气电浆处理,以使光阻剂紧密化。 | ||
申请公布号 | TWI257659 | 申请公布日期 | 2006.07.01 |
申请号 | TW092128780 | 申请日期 | 2003.10.17 |
申请人 | 南亚科技股份有限公司 | 发明人 | 李秀春;黄则尧;陈逸男;王志达 |
分类号 | H01L21/027 | 主分类号 | H01L21/027 |
代理机构 | 代理人 | 黄庆源 台北市大安区敦化南路1段245号8楼 | |
主权项 | 1.一种光阻剂处理方法,包含步骤有: 于一半导体结构上涂覆一层光阻剂; 于该光阻剂界定预定之图样; 移除该光阻剂不需要的部分,留下必要的部分以形 成图样;以及 对于留下之光阻剂施行紧密化处理。 2.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该紧密化 处理包含电浆处理以使光阻剂紧密化。 3.如申请专利范围第2项所述之方法,其中该电浆处 理系利用氩气电浆。 4.一种光阻剂处理方法,包含步骤有: 于一半导体结构上涂履一层光阻剂; 于该光阻剂施行紧密化处理;以及 将该光阻剂形成图样。 5.如申请专利范围第4项所述之方法,其中该紧密化 处理包含电浆处理以使光阻剂紧密化。 6.如申请专利范围第5项所述之方法,其中该电浆处 理系利用氩气电浆。 图式简单说明: 图1系显示先前技术DRAM记忆体装置的制程中有两 个金属层相连通的制程部分欲形成图样之步骤;以 及 图2系显示根据本发明之DRAM记忆体装置的制程中 有两个金属层相连通的制程部分欲形成图样之步 骤。 | ||
地址 | 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号 |