发明名称 X射线弯面晶体分光计
摘要 一种X射线弯面晶体分光计,其特征在于:它采用全聚焦式和对数螺线式分光结构,分光晶体选用有机晶体和无机晶体;分光计结构与组成的主要部件包括分光晶体、晶体支架、晶体架微调、前后狭缝光通道及分光盒,分光晶体装在晶体支架上,晶体支架安装在分光盒内,晶体架微调镶嵌在分光盒上并顶住晶体支架,前狭缝和后狭缝安装在分光盒两侧。本实用新型的优越性在于:弯面晶体分光计的优点在于它不用平晶分光必须使用的准直器,仅取消准直器这一项即可使弯面晶体分光计的分光效率提高四个数量级,此外,它有聚焦作用,提高谱线的单色性。
申请公布号 CN2791641Y 申请公布日期 2006.06.28
申请号 CN200520105448.6 申请日期 2005.08.17
申请人 天津中和科技有限公司 发明人 陈鹏
分类号 G01N23/207(2006.01) 主分类号 G01N23/207(2006.01)
代理机构 国嘉律师事务所 代理人 卢枫
主权项 1、一种X射线弯面晶体分光计,其特征在于:它采用全聚焦式和对数螺线式分光结构,分光晶体选用有机晶体和无机晶体;分光计结构与组成的主要部件包括分光晶体、晶体支架、晶体架微调、前后狭缝光通道及分光盒,分光晶体装在晶体支架上,晶体支架安装在分光盒内,晶体架微调镶嵌在分光盒上并顶住晶体支架,前狭缝和后狭缝安装在分光盒两侧。
地址 300457天津市天津经济技术开发区天大科技园C5楼一层
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