发明名称 | 形成光阻图案的方法以及修整光阻图案的方法 | ||
摘要 | 一种形成光阻图案的方法,此方法系首先在基底上形成光阻层,之后对光阻层进行一曝光制程。接着,进行一显影制程以使光阻层形成一图案化光阻层。然后,对此图案化光阻层进行多重修整步骤,其中此重修整步骤包括进行至少一次的硷性溶液处理步骤以及/或是至少一次的中性溶液处理步骤,以改善光阻图案之轮廓粗糙度、关键尺寸均匀度以及关键尺寸缩小化。 | ||
申请公布号 | TW200620404 | 申请公布日期 | 2006.06.16 |
申请号 | TW093138539 | 申请日期 | 2004.12.13 |
申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 吴得鸿;张圣岳;黄正惠 |
分类号 | H01L21/027 | 主分类号 | H01L21/027 |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号 |