发明名称 半导体元件以及半导体元件的制造方法
摘要 本发明提供一种技术,能够提高利用了氮化镓衬底(GaN衬底)的半导体元件的制造性,同时在GaN衬底上形成平坦性及结晶性优越的氮化物类半导体层。准备上表面(10a)相对于(0001)面在<1-100>方向具有大于等于0.1°小于等于1.0°的偏移角度θ的氮化镓衬底(10)。并且,在GaN衬底(10)的上表面(10a)上层叠含有n型半导体层(11)的多个氮化物类半导体层,从而形成半导体激光器等的半导体元件。
申请公布号 CN1783525A 申请公布日期 2006.06.07
申请号 CN200510118514.8 申请日期 2005.10.27
申请人 三菱电机株式会社 发明人 大野彰仁;竹见政义;富田信之
分类号 H01L33/00(2006.01);H01L29/04(2006.01);H01L21/20(2006.01);H01S5/00(2006.01) 主分类号 H01L33/00(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 浦柏明;刘宗杰
主权项 1.一种半导体元件,其具有:氮化镓衬底;以及在上述氮化镓衬底的上表面上形成的氮化物类半导体层,上述氮化镓衬底的上述上表面相对于(0001)面在<1-100>方向具有大于等于0.1°小于等于1.0°的偏移角度。
地址 日本东京都