发明名称 |
半导体元件以及半导体元件的制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种技术,能够提高利用了氮化镓衬底(GaN衬底)的半导体元件的制造性,同时在GaN衬底上形成平坦性及结晶性优越的氮化物类半导体层。准备上表面(10a)相对于(0001)面在<1-100>方向具有大于等于0.1°小于等于1.0°的偏移角度θ的氮化镓衬底(10)。并且,在GaN衬底(10)的上表面(10a)上层叠含有n型半导体层(11)的多个氮化物类半导体层,从而形成半导体激光器等的半导体元件。 |
申请公布号 |
CN1783525A |
申请公布日期 |
2006.06.07 |
申请号 |
CN200510118514.8 |
申请日期 |
2005.10.27 |
申请人 |
三菱电机株式会社 |
发明人 |
大野彰仁;竹见政义;富田信之 |
分类号 |
H01L33/00(2006.01);H01L29/04(2006.01);H01L21/20(2006.01);H01S5/00(2006.01) |
主分类号 |
H01L33/00(2006.01) |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
浦柏明;刘宗杰 |
主权项 |
1.一种半导体元件,其具有:氮化镓衬底;以及在上述氮化镓衬底的上表面上形成的氮化物类半导体层,上述氮化镓衬底的上述上表面相对于(0001)面在<1-100>方向具有大于等于0.1°小于等于1.0°的偏移角度。 |
地址 |
日本东京都 |