发明名称 薄膜半导体晶片之制造方法
摘要 本发明涉及二种以III/V–化合物半导体材料为主之薄膜半导体晶片之制造方法,此III/V–化合物半导体材料适合用来产生电磁辐射,第一制造方法包含以下各步骤:施加一种活性之层序列(1)(其适合用来产生电磁辐射)至生长基板(2)上,此活性之层序列具有一种面向生长基板(2)之前侧(12)和一种远离生长基板(2)之背面(11);施加至少一介电质层(3)至活性之层序列(1)之背面(11)上以作为一种反射性之层序列(51)之一部份;藉助于雷射使能量施加至介电质层(3)之边界已确定之容积区(8)中,使容积区中形成至少一种面向该活性之层序列(1)之背面(11)之开口(4);施加至少一种金属层(5)以作为该反射性之层序列(51)之另一部份,使该开口(4)之至少一部份以金属材料填入且形成至少一种至活性之层序列(1)之背面(11)之背面导电性接触位置(6);施加一种载体(8)至该反射性之层序列(51)上,以及去除该生长基板(2)。依据第二种方法,反射性之层序列(51)施加至活性之层序列(1)上且随后藉助于雷射使能量施加至反射性之层序列(51)之边界已确定之容积区(8)中,以形成至少一种至活性之层序列(1)之背面(11)之背面导电性接触位置(6)。
申请公布号 TW200616264 申请公布日期 2006.05.16
申请号 TW094133648 申请日期 2005.09.28
申请人 欧斯朗奥托半导体股份有限公司 发明人 威尔汉史坦;安德利亚斯普罗索
分类号 H01L33/00;H01L21/324 主分类号 H01L33/00
代理机构 代理人 何金涂;林荣琳
主权项
地址 德国