发明名称 METHOD OF X-RAY REFLECTANCE MEASUREMENT
摘要
申请公布号 KR20060044502(A) 申请公布日期 2006.05.16
申请号 KR20050023369 申请日期 2005.03.21
申请人 RIGAKU CORPORATION 发明人 OMOTE KAZUHIKO
分类号 G01N23/20;G01N23/201;G01N23/207;G01T1/24;G21K5/02 主分类号 G01N23/20
代理机构 代理人
主权项
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