发明名称 多端口器件分析装置和方法以及该装置的校准方法
摘要 一种多端口器件分析装置,包括:信号源,多个测试端口,多个测量单元,基准信号测量单元,多个终端电阻器,开关装置,把测试信号有选择地提供给一个测试端口(输入端口),使终端电阻器不连接具有测试信号的测试端口(输入端口),同时使终端电阻器连接所有其它的测试端口;其中,在不改变测试端口和DUT终端之间连接的情况下,获得多端口DUT的参数,同时改变测试端口的选择,直至所有测试端口都被指定为输入端口。
申请公布号 CN1255961C 申请公布日期 2006.05.10
申请号 CN00100728.9 申请日期 2000.02.03
申请人 株式会社鼎新 发明人 中山喜和;我田浩隆
分类号 H04B17/00(2006.01) 主分类号 H04B17/00(2006.01)
代理机构 永新专利商标代理有限公司 代理人 韩宏
主权项 1、一种用于测试具有多个端子的多端口器件的多端口器件分析装置,包括:信号源,用于提供一测试信号到受测试的多端口器件的一端子;多个测试端口,用于将受测试的多端口器件的所有端子连接到对应的测试端口,并选择性地将来自该信号源的测试信号提供给受测试的多端口器件的一个端子以及接收来自受测试的多端口器件的所选择端子的信号;多个测量单元,用于测量来自与受测试的多端口器件的对应的端子连接的对应测试端口的信号;多个信号分离电路,设置在该信号源与所述测试端口之间,以便分离通过测试端口来自受测试的多端口器件的信号,以及传送所分离的信号给所述测量单元,每一个所述信号分离电路由一个定向电桥或一个定向耦合器构成;一基准信号测量单元,用于测量该测试信号,以获得相对于由该多个测量单元测得的来自测试端口的信号测量值的基准数据;多个终端电阻器,每个被分配到一个测试端口,每个终端电阻器的一端接地;开关单元,设置在该信号源与所述测试端口之间,用于有选择地将测试信号提供到以下被称为输入测试端口的测试端口之一、并断开该终端电阻器与该输入测试端口的连接而将该终端电阻器连接到所有其他的测试端口;其中受测试的多端口器件的参数的获得不需要改变测试端口与DUT的端子间的连接,而由开关单元改变测试端口的选择直到所有测试端口都被分配作为输入测试端口;以及其中,除所述基准信号测量单元外,所述测量单元的数量与受测试的多端口器件的端子的最大数量相同。
地址 日本东京