发明名称 具短路开路侦测功能的高压测试方法及装置
摘要 本发明提出一种具短/开路侦测功能的高压测试方法及装置,其能够在进行高压测试前,以微量的测试电压对待测物进行短/开路检查,确认正常后再执行高压测试,以提高设备以及测试点的寿命,进而达到提高测试可靠度的要求。
申请公布号 TWI254135 申请公布日期 2006.05.01
申请号 TW093136412 申请日期 2004.11.26
申请人 致茂电子股份有限公司 发明人 王耀南;吴文杰;王偲怡
分类号 G01R31/02 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人 何金涂 台北市大安区敦化南路2段77号8楼;何秋远 台北市大安区敦化南路2段77号8楼
主权项 1.一种具短/开路侦测功能的高压测试装置,该装置 至少包括: (a)一交流产生装置; (b)一功率放大器,提供高压变压器输出所需要的功 率; (c)一高压变压器; (d)一回授选择,系可选择自该高压变压器输出端回 授的定电压模式,或自该功率放大器输出端回授的 非定电压模式,其中一回授点为该功率放大器输出 端回授点,另一回授点为该高压变压器输出端回授 点; (e)一分压器,提供回授选择所能允许的回授讯号; (f)一电流装置,用以读取及输出电流値; (g)一控制该回授选择的微处理控制器,用于判断线 路是否呈现短路或开路;以及 (h)一或多个待测物; 其中,在进行高压测试前,先以微量的测试电压对 待测物进行短路开路检查,确认待测物无短路或开 路以后,再执行高压测试,以提高设备以及测试点 的寿命,进而提高测试可靠度。 2.如申请专利范围第1项之装置,其中该交流产生装 置尚具备有一控制电压与频率输出的装置。 3.如申请专利范围第1项之装置,其中该微处理控制 器可接受来自该分压器与该电流装置的信号,并将 该些信号数値化后与一由使用者预设于该微处理 控制器内之数値比对,进而判断该待测物为开路或 短路状态,且该微处理控制器能将该测试结果与数 値输出至显示装置。 4.如申请专利范围第1项之装置,其中该回授选择可 为一开关装置,且由该微处理控制器,以提供一负 回授信号予该功率放大器,进而影响该功率放大器 之输出。 5.一种具短路开路侦测功能的高压测试方法,其步 骤至少包括:具备有可选择从功率放大器之输出端 或高压变压器之输出端回授的回授选择之选择步 骤;在进行高压测试前,先以低能量的测试电压对 待测物进行短路开路检查;确认待测物无短路或开 路以后,再执行高压测试。 图式简单说明: 第1图为一传统具有低输出阻抗电压源的高压产生 装置之示意图; 第2图为可选择高、低输出阻抗电压源之高压接点 短/开路装置示意图;以及 第3图为本发明之动作流程图。
地址 台北县五股乡五股工业区五权路43号