| 发明名称 | 用于测试光盘耐用性的装置和方法 | ||
| 摘要 | 公开了一种用于测试光盘(20)的耐用性的装置和方法，由此提高了测试的可靠性。该方法包括将光盘(20)固定在旋转盘(10)上，并且随同旋转盘(10)一起旋转光盘(20)，提供预定的压力给划痕(31)，同时该光盘(20)旋转预定数量的旋转圈数，以便由于与划痕器(31)接触而在光盘(20)的表面上产生划痕，和基于在光盘(20)的表面上产生的划痕确定光盘(20)的耐用性。 | ||
| 申请公布号 | CN1761866A | 申请公布日期 | 2006.04.19 |
| 申请号 | CN200480007427.9 | 申请日期 | 2004.03.17 |
| 申请人 | LG电子株式会社 | 发明人 | 金真弘;徐勋;李昌镐;郑台熙;郭锦哲;李承远 |
| 分类号 | G01N3/46(2006.01) | 主分类号 | G01N3/46(2006.01) |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 樊卫民;杨本良 |
| 主权项 | 1.一种用于测试光盘的耐用性的装置，其包括：旋转盘，其旋转光盘；划痕单元，其在光盘的表面上产生划痕；和框架，其在划痕单元上提供预定的压力，并且导致划痕单元接触光盘，以便在光盘的表面上产生划痕。 | ||
| 地址 | 韩国首尔 | ||