| 发明名称 | 集成电路测试装置 | ||
| 摘要 | 本发明的目的在于实现一种可以缩短测试时间的集成电路测试装置，且改进了对输出多梯级电压的被测试对象进行测试的集成电路测试装置。本装置包含：A/D转换器(模拟/数字转换器)，输入被测试对象的输出；存储器，储存该A/D转换器。 | ||
| 申请公布号 | CN1760689A | 申请公布日期 | 2006.04.19 |
| 申请号 | CN200510106799.3 | 申请日期 | 2005.10.12 |
| 申请人 | 横河电机株式会社 | 发明人 | 横须贺拓也 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01) | 主分类号 | G01R31/28(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 蒲迈文;黄小临 |
| 主权项 | 1.一种集成电路测试装置，其对输出多段阶电压的被测试对象进行测试，并包含：A/D转换器，输入该被测试对象的输出；存储器，储存该A/D转换器的输出；数字比较器，对该A/D转换器的输出与比较电压数据进行比较。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||