发明名称 衬底处理装置及半导体装置的制造方法
摘要 本发明提供一种衬底处理装置,具有反应管203、加热硅晶片200的加热器207,将三甲基铝(TMA)和臭氧(O<SUB>3</SUB>)交替供给至反应管203内,从而在晶片200的表面形成Al<SUB>2</SUB>O<SUB>3</SUB>膜,所述装置的特征为,具有使臭氧和TMA分别流通的供给管232a、232b、以及向反应管203内供给气体的喷嘴233,使2根供给管232a、232b在反应管203内低于晶片200附近温度的温度区域与配置于加热器207内侧的喷嘴233连接,臭氧和TMA通过喷嘴233分别供给至反应管203内。
申请公布号 CN1762042A 申请公布日期 2006.04.19
申请号 CN200480007520.X 申请日期 2004.07.09
申请人 株式会社日立国际电气 发明人 境正宪;加贺谷彻;山崎裕久
分类号 H01L21/205(2006.01);H01L21/31(2006.01);H01L21/316(2006.01);C23C16/455(2006.01) 主分类号 H01L21/205(2006.01)
代理机构 北京市金杜律师事务所 代理人 杨宏军
主权项 1、一种衬底处理装置,所述装置具有容纳衬底的处理室和加热所述衬底的加热部件,将相互反应的至少2种气体交替供给至所述处理室内,在所述衬底的表面形成所希望的膜,该装置的特征为,具有使所述2种气体分别相互独立地流通的2根供给管和单一的气体供给部件,该单一的气体供给部件向所述处理室内供给气体,所述气体供给部件的一部分延伸存在于所述2种气体中至少一种气体的分解温度或分解温度以上的区域中;所述2根供给管在低于所述至少1种气体的分解温度的位置与所述气体供给部件连接,将所述2种气体分别通过所述气体供给部件供给至所述处理室内。
地址 日本东京都
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