发明名称 |
衬底处理装置及半导体装置的制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种衬底处理装置,具有反应管203、加热硅晶片200的加热器207,将三甲基铝(TMA)和臭氧(O<SUB>3</SUB>)交替供给至反应管203内,从而在晶片200的表面形成Al<SUB>2</SUB>O<SUB>3</SUB>膜,所述装置的特征为,具有使臭氧和TMA分别流通的供给管232a、232b、以及向反应管203内供给气体的喷嘴233,使2根供给管232a、232b在反应管203内低于晶片200附近温度的温度区域与配置于加热器207内侧的喷嘴233连接,臭氧和TMA通过喷嘴233分别供给至反应管203内。 |
申请公布号 |
CN1762042A |
申请公布日期 |
2006.04.19 |
申请号 |
CN200480007520.X |
申请日期 |
2004.07.09 |
申请人 |
株式会社日立国际电气 |
发明人 |
境正宪;加贺谷彻;山崎裕久 |
分类号 |
H01L21/205(2006.01);H01L21/31(2006.01);H01L21/316(2006.01);C23C16/455(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/205(2006.01) |
代理机构 |
北京市金杜律师事务所 |
代理人 |
杨宏军 |
主权项 |
1、一种衬底处理装置,所述装置具有容纳衬底的处理室和加热所述衬底的加热部件,将相互反应的至少2种气体交替供给至所述处理室内,在所述衬底的表面形成所希望的膜,该装置的特征为,具有使所述2种气体分别相互独立地流通的2根供给管和单一的气体供给部件,该单一的气体供给部件向所述处理室内供给气体,所述气体供给部件的一部分延伸存在于所述2种气体中至少一种气体的分解温度或分解温度以上的区域中;所述2根供给管在低于所述至少1种气体的分解温度的位置与所述气体供给部件连接,将所述2种气体分别通过所述气体供给部件供给至所述处理室内。 |
地址 |
日本东京都 |