| 发明名称 |
X-ray fluorescence analysis - using germanium (lithium) detector for non dispersive k-fluorescence analysis |
| 摘要 |
<p>An in-line X-ray fluorescence analysis for heavy metals uses a radionuclide source with a gamma-energy exceeding the K-absorption edge of the heaviest element to be analyzed. A planar drift Ge (Li) detector is used for a non-dispersive analysis.</p> |
| 申请公布号 |
DE2046606(A1) |
申请公布日期 |
1972.03.23 |
| 申请号 |
DE19702046606 |
申请日期 |
1970.09.22 |
| 申请人 |
Siemens AG. |
发明人 |
Neeb, Karl-Heinz, Dr.;Neidl, Herbert;Weisse, Hanns-Jörg |
| 分类号 |
G01N23/223;(IPC1-7):01N23/22 |
主分类号 |
G01N23/223 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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