发明名称 | 根据状态估算结果调整采样率的方法 | ||
摘要 | 一种用于根据状态估算结果调整采样率的方法与装置(120)。该方法包括接收有关于处理工件的测量数据,根据该测量数据的至少一部份估算下个处理状态,并且决定有关于该估算的下个处理状态的错误值。该方法还包括根据估算的下个处理状态而处理多个工件,以及根据该决定的错误值调整该待测量的经处理工件的采样协议。 | ||
申请公布号 | CN1759358A | 申请公布日期 | 2006.04.12 |
申请号 | CN200380110219.7 | 申请日期 | 2003.12.22 |
申请人 | 先进微装置公司 | 发明人 | J·王;B·K·卡森 |
分类号 | G05B19/418(2006.01) | 主分类号 | G05B19/418(2006.01) |
代理机构 | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人 | 戈泊;程伟 |
主权项 | 1.一种方法,包括:接收有关于一个或更多个先前经处理的工件的测量数据;根据该测量数据的至少一部份估算下个处理状态;决定有关于该估算的下个处理状态的错误值;根据该估算的下个处理状态处理多个工件;以及根据该决定的错误值调整该等经处理工件所欲测量的采样协议。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |