发明名称 根据状态估算结果调整采样率的方法
摘要 一种用于根据状态估算结果调整采样率的方法与装置(120)。该方法包括接收有关于处理工件的测量数据,根据该测量数据的至少一部份估算下个处理状态,并且决定有关于该估算的下个处理状态的错误值。该方法还包括根据估算的下个处理状态而处理多个工件,以及根据该决定的错误值调整该待测量的经处理工件的采样协议。
申请公布号 CN1759358A 申请公布日期 2006.04.12
申请号 CN200380110219.7 申请日期 2003.12.22
申请人 先进微装置公司 发明人 J·王;B·K·卡森
分类号 G05B19/418(2006.01) 主分类号 G05B19/418(2006.01)
代理机构 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人 戈泊;程伟
主权项 1.一种方法,包括:接收有关于一个或更多个先前经处理的工件的测量数据;根据该测量数据的至少一部份估算下个处理状态;决定有关于该估算的下个处理状态的错误值;根据该估算的下个处理状态处理多个工件;以及根据该决定的错误值调整该等经处理工件所欲测量的采样协议。
地址 美国加利福尼亚州