发明名称 等离子体处理装置及等离子体处理方法
摘要 在一种用于对硅晶片(6)实施等离子体处理的等离子体处理装置中,该硅晶片(6)具有粘附于电路形成面上的保护带(6a),且该硅晶片(6)安装于一安装表面(3d)上,该安装表面设置于由导电金属形成的下电极(3)的上表面上,且保护带(6a)转向该安装表面(3d)。当一直流电压藉由供静电吸附用的直流电源部(18)施加于下电极(3)上以在等离子体处理中吸附且固定该硅晶片(6)于该下电极(3)上时,该保护带(6a)被用作供静电吸附用的介电材料。因而,该介电材料可尽量地薄,且该硅晶片(6)可被足够的静电保持力固定。
申请公布号 CN1249777C 申请公布日期 2006.04.05
申请号 CN02811860.X 申请日期 2002.08.20
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 有田洁;岩井哲博;寺山纯一
分类号 H01L21/00(2006.01);H01L21/68(2006.01) 主分类号 H01L21/00(2006.01)
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 李晓舒;魏晓刚
主权项 1.一种等离子体处理装置,用于对半导体衬底实施等离子体处理,该半导体衬底在表面上具有一绝缘层,该装置包含:衬底安装部,其设置有安装表面,该安装表面具有暴露于该安装表面的至少一部分的导体,并作用为将半导体衬底以绝缘层侧转向该安装表面的方式安装;用来通过静电吸附将半导体衬底固定于安装表面上的静电吸附装置;以及等离子体发生装置,用于产生等离子体,以处理安装在安装表面上的半导体衬底;其中,半导体衬底的所述绝缘层用作供静电吸附用的介电材料。
地址 日本大阪府