发明名称 Selbsttest für die Phasenlage des Datenleseclocksignals DQS
摘要 Die Erfindung betrifft eine Halbleiterspeichervorrichtung mit DOLLAR A - zumindest einem Clockeingangskontakt (10) zur Eingabe eines externen Clocksignals (CLK); DOLLAR A - zumindest einem Clockausgangskontakt (18) zur Ausgabe eines Datenleseclocksignals (DQS) für ein Auslesen von in der Halbleiterspeichervorrichtung gespeicherten Daten; DOLLAR A - zumindest einen Datenkontakt zur Ausgabe von in der Halbleiterspeichervorrichtung gespeicherten Daten (DQ); DOLLAR A - zumindest einer Phaseneinstelleinrichtung (DLL), welche ausgelegt ist, eine Phase des Datenleseclocksignals (DQS) in Abhängigkeit von einer Phase des externen Clocksignals (CLK) näherungsweise einzustellen; DOLLAR A - zumindest einer Phasendifferenztesteinrichtung, welche ausgelegt ist, DOLLAR A -- eine Phasendifferenz zwischen der Phase des Datenleseclocksignals (DQS) und der Phase des externen Clocksignals (CLK) näherungsweise zu erfassen, und DOLLAR A -- ein Testergebnis, basierend auf der erfaßen Phasendifferenz, auszugeben.
申请公布号 DE102004044721(A1) 申请公布日期 2006.03.30
申请号 DE200410044721 申请日期 2004.09.15
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 SPIRKL, WOLFGANG;KUHN, JUSTUS
分类号 G11C11/4076;G11C7/22;G11C29/00 主分类号 G11C11/4076
代理机构 代理人
主权项
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