| 发明名称 | 用于无接触式测量物体的方法 | ||
| 摘要 | 提供一种用于无接触式测量一个物体(6)的至少一维尺寸的方法，其中，对物体(6)在一个扫描射线场(1)空间上有限的作用区内进行扫描，并从扫描射线(L)一次或者多次中断的检测中推断出物体(6)所测量维内的尺寸。扫描射线场(1)由多个可直接寻址的单个射线(L)构成。扫描射线场(1)空间上有限的作用区的射线扫描在使用非线性搜索法的情况下按照可预先规定的步骤模式进行。一种优选的方法在于使用一种二分法。 | ||
| 申请公布号 | CN1754081A | 申请公布日期 | 2006.03.29 |
| 申请号 | CN200480004985.X | 申请日期 | 2004.01.07 |
| 申请人 | 塞德斯股份公司 | 发明人 | B·德科伊 |
| 分类号 | G01B11/10(2006.01);G01B11/245(2006.01);G01B11/24(2006.01);G01B11/02(2006.01);G01B11/04(2006.01) | 主分类号 | G01B11/10(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 苏娟;胡强 |
| 主权项 | 1.用于无接触式测量物体(6；16)至少一维尺寸的方法，其中，对物体(6；16)在一个扫描射线场(1；11)空间上有限的作用区域内进行扫描，并从扫描射线一次或者多次中断的探测中推断出物体(6；16)所测量维内的尺寸，其特征在于，扫描射线场由多个可直接寻址的单个射线(L；P)构成，按照可预先规定的步骤模式进行扫描并为扫描使用一种非线性搜索法。 | ||
| 地址 | 瑞士兰德夸特 | ||