发明名称 |
液晶板的试验方法以及试验装置 |
摘要 |
本发明提供一种能够谋求液晶板的耐光性的评价所需的时间的缩短的技术,它是用于试验包含一对基板和介于该基板间的液晶层的液晶板的耐光性的方法,该方法包含有:将激光(LB)的波长、照射能量或者照射时间中至少一个作为可变参数设定并在所述液晶板(100)的试验对象区域(AR)上照射该激光的第1工序;在所述液晶板上照射观察光(OB),并检测通过该液晶板后的该观察光的状态的第2工序;以与所述激光的所述可变参数的设定对应的所述观察光的状态的差异为基础,评价所述液晶板的耐光性的第3工序。 |
申请公布号 |
CN1749724A |
申请公布日期 |
2006.03.22 |
申请号 |
CN200510099874.8 |
申请日期 |
2005.09.08 |
申请人 |
精工爱普生株式会社 |
发明人 |
梅津一成;山田周平 |
分类号 |
G01M11/00(2006.01);G02F1/13(2006.01) |
主分类号 |
G01M11/00(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
李香兰 |
主权项 |
1.一种液晶板的试验方法,用于对包含一对基板和介于该基板间的液晶层的液晶板的耐光性进行试验,其特征是包括:第1工序,将激光的波长、照射能量或者照射时间中至少一个作为可变参数设定,并将激光照向在所述液晶板的试验对象区域;第2工序,在所述液晶板上照射观察光,并检测通过该液晶板后的该观察光的状态;和第3工序,以与所述激光的所述可变参数的设定对应的所述观察光的状态的差异为基础,评价所述液晶板的耐光性。 |
地址 |
日本东京 |