| 发明名称 | 盘再现/重写系统中的缺陷管理 | ||
| 摘要 | 数据盘系统中的缺陷检测器包括缺陷估计单元和缺陷长度计数器。缺陷检测器输入来自拾取单元的RF信号，以便生成缺陷信号。缺陷长度计数器利用摆动信号和首标位置(ESFS)信号解释缺陷信号以生成缺陷长度信息。系统控制器从缺陷长度信息中确定数据盘的哪个扇区含有不可接受缺陷，以便将这样的扇区重新指定到数据盘上的另一个可用扇区。 | ||
| 申请公布号 | CN1750160A | 申请公布日期 | 2006.03.22 |
| 申请号 | CN200510089775.1 | 申请日期 | 2005.08.09 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 吴基焕 |
| 分类号 | G11B20/10(2006.01);G11B20/18(2006.01);G11B7/00(2006.01);G11B7/004(2006.01) | 主分类号 | G11B20/10(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 王志森;黄小临 |
| 主权项 | 1.一种管理数据盘上的缺陷的方法，包括：从读取数据盘中生成RF信号；通过将RF信号与缺陷阈值相比较生成缺陷信号；和利用摆动信号和首标位置(ESFS)信号解释缺陷信号以生成缺陷长度信息。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||