发明名称 | 超声诊断装置的孔径确定方法 | ||
摘要 | 提供了一种确定超声诊断装置的孔径的方法,该方法防止波束图恶化并能获得具有良好质量的图像。此方法包括:波束形成仿真步骤(S102),该步骤基于与探测器的信号处理条件相关且包括对来自换能器的接收信号进行相加和稀化的方式的参数,对要形成的超声波束图进行仿真;以及相加和稀化模式确定步骤(S103),用于确定在波束形成仿真步骤中得到的波束图是否满足预定标准,该标准包括旁瓣电平的最大值,在不进行相加和稀化的情况下灵敏度降低的允许量等。 | ||
申请公布号 | CN1750789A | 申请公布日期 | 2006.03.22 |
申请号 | CN200480004509.8 | 申请日期 | 2004.02.09 |
申请人 | 松下电器产业株式会社 | 发明人 | 西垣森绪 |
分类号 | A61B8/00(2006.01) | 主分类号 | A61B8/00(2006.01) |
代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人 | 王英 |
主权项 | 1、一种确定超声诊断装置的孔径的方法,所述超声诊断装置包括:探测器,包括多个换能器阵列,用于向目标发射或从目标接收超声波束;发射脉冲产生单元,用于产生多个发射脉冲来驱动所述换能器阵列;波束形成器,用于对通过所述换能器阵列接收的信号进行延迟和求和操作;以及交叉点开关,用于将通过所述换能器阵列接收的信号分配到所述波束形成器的多个输入端中的任何输入端,其中,在所述交叉点开关中设置对接收信号进行相加或稀化的方式,从而,在孔径的中心侧与在端侧相比,更多来自所述换能器的接收信号输入到波束形成器的一个输入端,所述方法包括:波束形成仿真步骤,该步骤基于与所述探测器的信号处理条件相关的且包括相加和稀化方式的参数,对要形成的超声波束图进行仿真;以及相加和稀化模式确定步骤,用于确定在所述波束形成仿真步骤中得到的所述波束图是否满足预定标准。 | ||
地址 | 日本大阪府 |