发明名称 TESTER MODULE WITH COMPENSATION FOR LEAKAGE CURRENT, INTEGRATED CIRCUIT TESTER, AND ITS OPERATING METHOD
摘要
申请公布号 KR100561557(B1) 申请公布日期 2006.03.16
申请号 KR19997010010 申请日期 1999.10.29
申请人 发明人
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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