发明名称 Halbleiterspeicher und Verfahren zur Herstellung des Halbleiterspeichers
摘要 Es wird ein Halbleiterspeicher angegeben, der ein in einem Substrat (7) vergrabenes elektrisch leitfähiges Gebiet (3) und ein Feld von ersten und zweiten Zellen (1, 2) aufweist. Die ersten Zellen (1) sind als Speicherzellen mit jeweils einem Auswahltransistor (4) und einem Speicherkondensator (5) ausgebildet und sind an Wortleitungen (300) und erste Bitleitungen (100) angeschlossen. Die zweiten Zellen (2) sind als schaltbare Kontakte mit jeweils einem Auswahltransistor (4) und einem Widerstandselement (6) ausgebildet und an jeweils eine der Wortleitungen (300) und an eine zweite Bitleitung (200) angeschlossen. Das Widerstandselement (6) umfasst eine erste Elektrode (61) und eine zweite Elektrode (62), die leitend miteinander verbunden sind. Die zweite Bitleitung (200) ermöglicht es, eine Plattenspannung V¶PL¶ über die zweiten Zellen (2) niederohmig an das vergrabene leitende Gebiet (3) anzulegen.
申请公布号 DE102004040765(A1) 申请公布日期 2006.03.09
申请号 DE20041040765 申请日期 2004.08.23
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 SOMMER, MICHAEL BERNHARD
分类号 G11C11/401;H01L21/8242 主分类号 G11C11/401
代理机构 代理人
主权项
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