发明名称 Verfahren zum Testen eines Speichers mittels externem Testchip und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
摘要 Die Erfindung schafft eine elektronische Speichervorrichtung mit einem auf einem ersten Schaltungschip angeordneten Speichermodul (100), welches mindestens eine Speicherbank (101a-101n) zur elektronischen Speicherung von Daten aufweist, und einem Testmodul (200), welches Analyseeinheiten (201a-201n) zum Testen des Speichermoduls (100) aufweist. Hierbei ist das Speichermodul auf einem ersten Schaltungschip angeordnet. Das Testmodul (200) ist auf einem zweiten Schaltungschip angeordnet, der räumlich getrennt von dem auf dem ersten Schaltungschip angeordneten Speichermodul (100) bereitgestellt ist, wobei das Testmodul (200) mit dem Speichermodul (100) über eine Kommunikationseinrichtung (300) verbunden ist.
申请公布号 DE102004042074(A1) 申请公布日期 2006.03.09
申请号 DE200410042074 申请日期 2004.08.31
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 BOLDT, SVEN
分类号 G11C29/56 主分类号 G11C29/56
代理机构 代理人
主权项
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