发明名称 MONITORING BURN-IN TEST METHOD FOR A DIAGONAL CELL STRUCTURE MEMORY
摘要
申请公布号 KR20060021480(A) 申请公布日期 2006.03.08
申请号 KR20040070239 申请日期 2004.09.03
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 YOO, DONG GYUN;LEE, HWA CHEOL;CHO, BYUNG HOO;BANG, JEONG HO;KIM, YOUNG JOO;KIM, HYUN JA;CHO, KEUN WON
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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