发明名称 | 光谱测量系统和方法 | ||
摘要 | 一种测量光谱之系统和方法,该方法包括以下步骤:用光源照射到待测物上;分离待测物之反射光和透射光;用光调制器分别对反射光和透射光进行调制;将调制后之反射光和透射光混合;通过单光仪,得到混合光之光谱;通过光电探测器将光谱信号转换成电信号;通过解调器将反射光和透射光分别解调,得到相应之反射光谱和透射光谱。 | ||
申请公布号 | TW200607994 | 申请公布日期 | 2006.03.01 |
申请号 | TW093125167 | 申请日期 | 2004.08.20 |
申请人 | 鸿海精密工业股份有限公司 | 发明人 | 林志泉 |
分类号 | G01J3/28 | 主分类号 | G01J3/28 |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | |||
地址 | 台北县土城市自由街2号 |