发明名称 |
Vorrichtung zur Inspektion eines mikroskopischen Bauteils |
摘要 |
Es ist eine Vorrichtung (1) zur Inspektion, Messung definierter Strukturen, Simulation von Strukturen und Strukturfehlern, Reparatur von und an Strukturen und Nachinspektion definierter Objektstellen eines mikroskopischen Bauteils (2) mit einem Auflagetisch (4) für das mikroskopische Bauteil (2) offenbart. Es ist mindestens ein Immersionsobjektiv (8a) und eine Einrichtung (21) zum dosierten Aufbringen einer kleinen Flüssigkeitsmenge auf die Oberfläche (2a) des mikroskopischen Bauteils (2) vorgesehen. Eine Einrichtung (23) zum Absaugen der kleinen Flüssigkeitsmenge ist über der Oberfläche (2a) des mikroskopischen Bauteils (2) angebracht, wobei die Einrichtung (23) das Immersionsobjektiv (8a) zumindest teilweise umschließt oder in der Nähe des Objektivs angeordnet ist.
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申请公布号 |
DE102004033195(A1) |
申请公布日期 |
2006.02.23 |
申请号 |
DE200410033195 |
申请日期 |
2004.07.09 |
申请人 |
LEICA MICROSYSTEMS SEMICONDUCTOR GMBH;MUETEC AUTOMATISIERTE MIKROSKOPIE UND MESTECHNIK GMBH |
发明人 |
SCHEURING, GERD;HILLMANN, FRANK;BRUECK, HANS-JUERGEN |
分类号 |
G01M11/00;H01L21/66 |
主分类号 |
G01M11/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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