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发明名称 SYSTEM FOR INTERFACING SEMICONDUCTOR TESTER
摘要
申请公布号 KR20060016260(A) 申请公布日期 2006.02.22
申请号 KR20040064640 申请日期 2004.08.17
申请人 UNITEST INC. 发明人 KANG, JONG KOO
分类号 G01R31/26;H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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