发明名称 集成半导体装置
摘要 本发明涉及一种用于提高半导体激光器的输出相关控制的可靠性的集成半导体装置,包括:粘附到半导体衬底上并具有光反射面和光透射面的棱镜,光反射面设置有反射从半导体激光器中发射的激光束的光反射膜,光透射面透射在物镜的孔径区域以外的从半导体激光器中发射的激光束;监控感光器,设置在半导体衬底的设置了棱镜的区域中并接收通过棱镜的光透射面的激光束;以及信号检测感光器,用于接收在棱镜的光反射面处反射并通过物镜会聚在圆盘形记录介质的记录面上的激光束作为返回光,并设置在其中设置有半导体衬底上的棱镜的区域的外部。
申请公布号 CN1739151A 申请公布日期 2006.02.22
申请号 CN200380108786.9 申请日期 2003.12.22
申请人 索尼株式会社 发明人 根本和彦
分类号 G11B7/135(2006.01);G11B7/125(2006.01) 主分类号 G11B7/135(2006.01)
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 李晓舒;魏晓刚
主权项 1、一种集成半导体装置,具有半导体衬底和包括半导体激光器的每个预定光学元件,所述半导体激光器设置在所述半导体衬底上,并且从所述半导体激光器发射的激光束通过物镜会聚在圆盘形记录介质的记录面上,其特征在于包括:粘附到所述半导体衬底上并具有光反射面和光透射面的棱镜,所述光反射面形成有用于反射从所述半导体激光器发射的激光束的光反射膜,所述光透射面用于透射从所述半导体激光器发射的在所述物镜的孔径范围以外的激光束;监控感光器,设置在所述半导体衬底的设置有所述棱镜的区域内,并接收通过所述棱镜的所述光透射面透射的所述激光束;以及信号检测感光器,设置在所述半导体衬底的设置有所述棱镜的区域的外部,用于接收在所述棱镜的所述光反射面处反射并通过所述物镜会聚在所述圆盘形记录介质的所述记录面上的激光束作为返回光。
地址 日本东京都