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发明名称
形成具有不同特性之结晶半导体区域之基板的方法
摘要
藉由在第一结晶半导体区域内形成电介质区域以提供单一基板上之不同类型的结晶半导体区域。其后,使用晶圆结合技术将第二结晶区域置于电介质区域上。在优选实施例中,伴随电介质区域会在第一结晶层形成绝缘结构。更详而言之,可以形成不同结晶方向的结晶半导体区域,其可在目前常用的互补金属氧化物半导体(CMOS)制程中维持高灵活性和兼容性。
申请公布号
TW200607047
申请公布日期
2006.02.16
申请号
TW094121103
申请日期
2005.06.24
申请人
高级微装置公司
发明人
布奇禾兹 沃夫根;库奇尔 史提芬
分类号
H01L21/8238
主分类号
H01L21/8238
代理机构
代理人
洪武雄;陈昭诚
主权项
地址
美国
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