| 发明名称 | 芯片检测方法及相关装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种对样品中、特别是生物样品中的目标物进行定性和/或定量芯片分析的方法，其包括在芯片试剂盒制备过程或/和样品检测信号形成过程中对芯片进行不同于标记的着色，以使背景与目标之间色差比最大化。特别是通过着色使芯片弱目标信号－背景比小于0.80、优选小于0.50、更优选小于0.25，以提高检测灵敏度。本发明还涉及上述芯片试剂盒制备过程制备的含着色剂或着色物的芯片片基、芯片基片、芯片探针板及芯片试剂盒。 | ||
| 申请公布号 | CN1735807A | 申请公布日期 | 2006.02.15 |
| 申请号 | CN200480000649.8 | 申请日期 | 2004.07.01 |
| 申请人 | 成都夸常医学工业有限公司;成都夸常科技有限公司 | 发明人 | 邹方霖;陈春生;王建霞 |
| 分类号 | G01N33/543(2006.01);C12Q1/68(2006.01) | 主分类号 | G01N33/543(2006.01) |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人 | 过晓东 |
| 主权项 | PCT国内申请，权利要求书已公开。 | ||
| 地址 | 610041中国四川省成都市高新区高朋大道5号博士创业园 | ||