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发明名称 WAFER BURN-IN TEST METHOD FOR TWIST BIT LINE MEMORY DEVICE
摘要
申请公布号 KR20060013126(A) 申请公布日期 2006.02.09
申请号 KR20040061958 申请日期 2004.08.06
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 PYO, SUK SOO;JUNG, HYUN TAEK
分类号 G11C29/00;G11C7/12 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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