发明名称 一种纳-微米多孔硅锗合金热电材料的制备方法
摘要 本发明供了一种纳-微米多孔硅锗合金热电材料的制备方法,属于热电半导体材料技术领域。涉及含有纳米尺度的硅,In,InSb或Sb量子线或点的纳-微米多孔硅锗合金片的制备。本发明采用电化学腐蚀、物理气相蒸镀、第二次化学腐蚀相结合的方法,获得一系列含有纳米尺度的硅或硅锗量子线,在多孔硅锗合金片的孔中含有In,InSb或Sb量子线或点的纳-微米多孔硅锗合金片锗合金,其组成特征是:In,InSb或Sb的重量总含量小于2%,具有实-空结合的量子结构,该结构可以使电子与声子运动分离,从而实现热电性能的大幅度提高,较常规的制备量子阱、量子线或量子点的化学气相沉积等方法具有工艺简便,成本低的优点,该制备方法还可用于较高性能硅锗激光器的研究。
申请公布号 CN1731594A 申请公布日期 2006.02.08
申请号 CN200510012295.5 申请日期 2005.08.03
申请人 北京科技大学 发明人 徐桂英;赵志远;吴晓峰
分类号 H01L35/34(2006.01) 主分类号 H01L35/34(2006.01)
代理机构 北京科大华谊专利代理事务所 代理人 刘月娥
主权项 1、一种纳-微米多孔硅锗合金热电材料的制备方法,采用电化学腐蚀、物理气相蒸镀、二次化学腐蚀相结合的方法,获得一系列含有纳米尺度的硅或硅锗量子线,在多孔硅锗合金片的孔中含有In,InSb或Sb量子线或点的纳-微米多孔硅锗合金片,形成实-空结合量子结构的纳-微米多孔硅锗合金材料;具体工艺步骤为:a、采用高电导率硅锗合金(Si1-xGex(x=0-0.35))片为原材料;b、分别采用洗涤剂,去离子水和超声波法彻底清洗硅锗合金片;c、采用电化学腐蚀的方法对硅锗合金片进行第一次腐蚀,电流密度为10~30mA/cm2腐蚀时间为0.5~20分钟,腐蚀液组成为浓度10%~20%的氢氟酸,之后用去离子水在条件为20~25KHz的超声波环境超声波清洗30~35分钟;d、用热风机将清洗过的硅锗合金片烘干并置于真空室的样品台上,然后对真空室开始抽真空直至工作真空度;e、选择单源物理气相沉积的方法,并以原子比为1/1的InSb合金为蒸镀源,在多孔硅锗合金片表面沉积厚度为600~900nm的InSb薄膜,工艺参数为:蒸发源温度:1200~1300℃,基片温度:150~200℃,蒸发时间:10~20分钟,真空度:2~3×10-3Pa;f、在100~500℃的温度范围内热处理多孔硅锗合金片3~6小时;g、对热处理过的多孔硅片进行第二次腐蚀,腐蚀时间为3~12分钟,腐蚀液组成为:HF/HNO3/H2O=1/3/20~1/3/30;h、采用去离子水进行超声波清洗20~25分钟,超声波频率为20~25Hz;i、用热风机将清洗过的硅锗合金片迅速烘干,得到含有一系列具有纳米尺度的硅,In,InSb或Sb量子线或点的纳-微米多孔硅锗合金片。
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