| 发明名称 |
Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung von integrierten Schaltungen |
| 摘要 |
A method and apparatus for testing integrated circuit die which includes a structure (73, 75, 77, 79) for permitting selective pad-to-pad bypass in the internal circuitry of the die. <IMAGE> |
| 申请公布号 |
DE69633713(T2) |
申请公布日期 |
2006.02.02 |
| 申请号 |
DE1996633713T |
申请日期 |
1996.10.31 |
| 申请人 |
TEXAS INSTRUMENTS INC., DALLAS |
发明人 |
WHETSEL, LEE D. |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3185;G06F11/267;H01L21/66;H01L21/822;H01L27/04 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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